Yarıiletken Cihaz Test Sistemleri

Avtech, yarı iletken test gereksinimleri için bir dizi çözüm sunmaktadır. Avtech, aşağıdakiler de dahil olmak üzere, birçok test isteğine uygun ürünleri tedarik edebilir:

  • Ters Kuruma Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Metod 4031, vb.)
  • İleri Geri Kazanım Gerilimi ve Zaman Testleri (MIL-STD-750-4 Metod 4026, vb.)
  • Transistör Anahtarlama Zaman Testleri (MIL-PRF-19500, vb.)
  • Phototriac dV / dt Testleri
  • Lazer Diyot Darbe Testi
  • Üretim Darbeli V-I Testleri

Açıklama

Avtech ayrıca, operatör için kullanım kolaylığı ve güvenlik sağlarken, parazit indüktansı en aza indirmek için tasarlanmış özel test jigleri de sağlayabilir. “Bir tür” uygulamaları “Stoka yakın” fiyatlarla edinilebilir. Özel gereksinimleriniz için Global Analitik ile iletişime geçin!

Aşağıda listelenen aletler, belirli yarı iletken test gereksinimleri için özellikle uygundur, ancak diğer modeller de ilgi çekici olabilir. Tecrübeli uygulama mühendislerimiz sizi en uygun modele yönlendirebilir.

“-B” son ekine sahip tüm modeller, kolay test otomasyonu için IEEE-488.2 GPIB ve RS-232 portlarını içerir. Temel komut seti, kullanım kolaylığı için SCPI uyumludur.

Ters Kurtarma Test Sistemleri

Ürün Genlik (maks.) + to – Geçiş PW Maks. PRF Tipik Uygulamalar
AVR-EB2A-B Puls Üreteci +/- 100 mA ≤ 0.3 ns 200 ns 10 kHz Düşük akım diyotları için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.4 Condition A)
AVR-EB4-B Puls Üreteci +2A / -4A ≤ 4.5 ns 2-20 us 100 Hz Orta akım diyotları için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.4 Condition B)
AVR-EB5-B Puls Üreteci +4A / -4A ≤ 100 ns 0.2-1 ms 10 Hz PIN diyot ömür boyu karakterizasyonu için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.4 Condition B)
AVR-EB7-B Puls Üreteci +200mA / -200mA ≤ 2.5 ns 200 ns 5 kHz Küçük sinyal diyotları için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.4 Condition B)
AVR-CC2-B Puls Üreteci +80A / -40A set by L, C 2.5 us 100 Hz Güçlü diyotlar için Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.5 Condition C)
AVR-CD1-B Puls Üreteci to +10A 20-200 A/us 2 us 100 Hz Orta akım diyotları ve MOSFET parazit diyotları için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4031.4 Condition D)
AVR-CD2-B Puls Üreteci to +40A 70-200 A/us 5 us 10 Hz MOSFET body diyotları için Ters Geri Kazanım Süresi Testleri (MIL-STD-750-3 Method 3473.1 Condition A)
AVR-EBT1-B Puls Üreteci +20mA / -10V ≤ 300 ps 20 ns 10 kHz Adım kurtarma diyotlarının (SRD’ler) geçiş süresi ölçümü

İleri Kurtarma Süresi Test Sistemleri

Ürün Genlik (maks.) Geçiş Süresi PW Maks. PRF Tipik Uygulama
AVR-EBF8-B Puls Üreteci +0.2A 0.4 ns 100 ns 5 kHz İleri Kurtarma Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4026.3)
AVR-EBF6-B Puls Üreteci +1A 10 ns 0.2 – 10 us 10 kHz İleri Kurtarma Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4026.3)
AVR-EBF10-B Puls Üreteci +10A 30 ns 1 – 10 us 100 Hz İleri Kurtarma Süresi Testleri (MIL-STD-750-4 Method 4026.3)